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10月30日音问，近日，高性能 ASIC 设想做事厂商世芯电子（Alchip）发布新闻稿称，它还是收效流片了一款 2nm 测试芯片，展望来岁第一季度将公布成果。当今，世芯正在与客户积极配合拓荒高性能 2nm ASIC。

这两项得益使世芯成为第一批收效接收立异性的纳米片（或万能门 GAA）晶体管架构的 IC 创新者之一。该测试芯片具有高速 SRAM 和自动布局布线设想，以确保最好性能。它还包括用于及时知悉的硅性能监控器，并将世芯的 Lite I/O 与分享和非分享电源域集成，使其或者搞定 3DIC 选项。

该测试芯片将为最新的纳米片晶体管结构建造设想经由和门径。它还将从 2nm 工艺本事生收效力、性能和面积 （PPA） 数据。

世芯将其 2nm 测试芯片流片视为保捏其高性能 ASIC 本事跨越地位的瑕疵一步，因为其成果将匡助公司为下一代 1.6nm（A16） 工艺本事的翌日发展作念好准备。天然它是一个单片设想，但 世芯的 2nm 测试芯片集成并考证了该公司的 AP-Link-3D I/O IP，可用于翌日的 3DIC 小芯片系统设想。

“咱们还是运转交易，并准备好餍足客户的 2nm 需求。这款测试芯片展示了咱们冲突高性能辩论和东说念主工智能设想鸿沟的能力，”世芯首席本事官 Erez Shaizaf 说。

世芯总裁兼首席实践官 Johnny Shen 补充说念：“咱们的 2nm 测试芯片代表了本事的重要飞跃，标明咱们已准备好参与起始进的 ASIC 拓荒。咱们期待看到这一冲突对半导体行业产生什么影响。”

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世芯Erez芯片流片芯智发布于：北京市